Filtrer par type d'événement

Sélectionnez un ou plusieurs filtres. Ce choix permettra de recharger la page pour afficher les résultats filtrés.

Filtrer par thématique

Sélectionnez un ou plusieurs filtres. Ce choix permettra de recharger la page pour afficher les résultats filtrés.

Supprimer tous les filtres

7 résultats

    • Séminaire

    • SemSecuElec

    HDL simulation for Masked Software Verification

    • 29 mai 2026 (10:00 - 11:00)

    • IETR - University of Rennes - Campus de BEAULIEU - Bâtiment 11D, salle numéro 18

    Orateur : Quentin Meunier - Sorbonne Univ. Lip6

    Masking is a countermeasure against Side-Channel Attacks (SCA) that aims to ensure that intermediate computations in an algorithm have secret-independent distributions through the use of random variables. This theoretically prevents SCAs, as power consumption is directly linked to the values manipulated by the program or hardware device. Designing a masking scheme is often non-trivial, and a[…]

    • SemSecuElec

    • Side-channel

    • Séminaire

    • SemSecuElec

    Étude, caractérisation et détection de verrouillage d'anneaux oscillants utilisés dans les générateurs de nombres aléatoires.

    • 29 mai 2026 (11:00 - 12:00)

    • IETR - University of Rennes - Campus de BEAULIEU - Bâtiment 11D, salle numéro 18

    Orateur : Eloise Delolme - LabHC

    Les générateurs de nombres aléatoires matériels basés sur des oscillateurs en anneau (RO-TRNGs) exploitent le jitter d’horloge comme source d’aléa afin de produire des séquences de bits aléatoires. Parmi ces architectures, le MURO-TRNG repose sur un modèle stochastique complexe qui suppose notamment l’indépendance des oscillateurs. Toutefois, dans la pratique, les oscillateurs en anneau sont[…]

    • SemSecuElec

    • TRNG

    • Séminaire

    • Cryptographie

    Schéma de signature à clé publique : Frobénius-UOV

    • 29 mai 2026 (13:45 - 14:45)

    • IRMAR - Université de Rennes - Campus Beaulieu Bat. 22, RDC, Rennes - Amphi Lebesgue

    Orateur : Gilles Macario-Rat - Orange

    L'exposé présente un schéma de signature à clé publique post-quantique inspiré du schéma UOV et introduisant un nouvel outil : les formes de Frobénius. L'accent est mis sur le rôle et les propriétés des formes de Frobénius dans ce nouveau schéma : la simplicité de description, la facilité de mise en oeuvre et le gain inédit sur les tailles de signature et de clé qui bat RSA-2048 au niveau de[…]

    • Séminaire

    • Cryptographie

    Cryptanalysis of full BEANIE

    • 05 juin 2026 (13:45 - 14:45)

    • IRMAR - Université de Rennes - Campus Beaulieu Bat. 22, RDC, Rennes - Amphi Lebesgue

    Orateur : Xavier Bonnetain - Inria

    BEANIE is a tweakable block cipher recently published at ToSC aiming for memory encryption of microcontroller units. In line with this goal, it handles small plaintexts of only 32 bits and has a low latency. In this paper, we propose the first third-party analysis of the two variants of BEANIE. By carefully leveraging structural properties of the cipher and taking advantage of its distinctive[…]

    • Cryptography

    • Symmetrical primitive

    • Séminaire

    • SemSecuElec

    Chamois: Formally verified compilation for optimisation and security

    • 26 juin 2026 (10:00 - 11:00)

    • IETR - University of Rennes - Campus de BEAULIEU - Bâtiment 11D, salle numéro 18

    Orateur : David MONNIAUX - CNRS - Verimag

    Embedded programs (including those on smart cards) are often developed in C and then compiled for the embedded processor. Sometimes they are modified by hand to incorporate countermeasures (fault attacks, etc.), but care must be taken to ensure that this does not disrupt normal program execution and that the countermeasure is actually adequate for blocking the attacks.In the process, it is[…]

    • SemSecuElec

    • Fault injection

    • Formal methods

    • Séminaire

    • SemSecuElec

    Security of Smart Dust: Robust Key Derivation for Single-Chip Systems

    • 26 juin 2026 (11:00 - 12:00)

    • IETR - University of Rennes - Campus de BEAULIEU - Bâtiment 11D, salle numéro 18

    Orateur : Sara Faour - Inria

    The Smart Dust vision seeks to enable large networks of millimeter-scale wireless sensor nodes that tightly integrate sensing, computation, communication, and power management into a single-chip device. Establishing a robust hardware root of trust for such devices remains challenging, particularly in single, low-cost chip manufacturing processes that lack embedded writable Non-Volatile Memory (NVM[…]
Haut de page